عنوان
|
بررسی اثر غلظت پلی وینیل پیرولیدون بر ریخت شناسی و گاف انرژی اپتیکی اکسید سریم
|
نوع پژوهش
|
مقاله ارائه شده
|
کلیدواژهها
|
ریخت شناسی ؛ پلی وینیل پیرولیدون ؛ گاف انرژی اپتیکی ؛ اکسید سریم
|
چکیده
|
در این پژوهش نانوساختارهایی از اکسید سریم به روش هیدروترمال سنتز و اثر غلظت پلی وینیل پیرولیدون به عنوان عامل فعال کننده سطحی برساختار بلوری، ریخت شناسی و گاف انرژی اپتیکی بررسی گردیده است. برای مشخصه یابی ماده از پراش پرتو ایکس (XRD)، میکروسکوپ الکترونی روبشی گسیل میدانی (FESEM) و طیف سنجی فرابنفش- مرئی (UV-Vis) استفاده شده است نتایج بدست آمده نشان دادند که نمونه های سنتز شده دارای ساختار بلوری مکعبی هستند و دارای ریخت شناسی میکرو چند وجهی با قاعده ی مثلثی متشکل از نانوصفحات می باشند. با کاهش غلظت پلی وینیل پیرولیدون در سنتز اکسید سریم قاعده میکرو چند وجهی از مثلث به مثلث سه پره ای تغییر می یابد . همچنین گاف انرژی اپتیکی اکسید سریم با کاهش غلظت پلی وینیل پیرولیدون کاهش می یابد.
|
پژوهشگران
|
حسین میلانی مقدم (نفر سوم)، ثمانه رسولی جمنانی (نفر دوم)، سپیده مهرآموز (نفر اول)
|