چکیده – در این کار به بررسی تخلیه کرونای منفی با استفاده از روش تصویربرداری اپتیکی شلیرین در ساختار سیم-میله می پردازیم. ازآنجاییکه برای ثبت بهتر تصاویر در این آزمایش به بزرگنمایی بالاتر نیاز داریم، در نتیجه از ساختار Z-type شلیرین استفاه گردید. نتایج نشان داد که تخلیه کرونا با اعمال قطب منفی ولتاژ بالا به الکترود سیمی منجر به پیدایش رگه های جریان در طول سیم می شود. این رگه ها به مرور زمان تغییر مکان می دهند ولی فاصله آنها نسبتا ثابت می باشد. با استفاده از نرم افزار COMSOL MULTY PHYSICS 14 چیدمان ایجاد کرونا شبیه سازی گردید و رگه های جریان در دوبعد مشاهده گردید. هم چنین اندازه و جهت نیروی پیشران حجمی ناشی از این کرونا توسط نرم افزار ارزیابی شد.
