در این پژوهش، نانوساختار سریم دی اکسید آلاییده شده با آهن به روش رسوب گذاری سنتز شده است. نانوساختارهای بدست آمده بوسیله روش های طیف سنجی پراش اشعه ی ایکس(XRD)، میکروسکوپ روبشی الکترونی گسیل میدانی (FESEM) و طیف سنجی فرابنفش- مرئی (UV-vis) آنالیز و مشخصه یابی شده است. تابع دی الکتریک مختلط مورد مطالعه قرار گرفت، مشاهده گردید به طور کلی با افزودن ناخالصی قست موهومی و حقیقی تابع دی الکتریک مختلط در محدوده فرابفش کاهش می یابد.
